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Novedad 

Nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X

Shimadzu presentó el nuevo espectrómetro dispersivo de energía de fluorescencia de rayos X: EDX LE, diseñado específicamente para cumplir con las normas RoHS/ELV

El nuevo espectrómetro de Shimadzu, hereda su operatividad superior del EDX-GP. Su detector (detector de Si-PIN de semiconductores) no requiere nitrógeno líquido, logrando costos operativos más bajos y un mantenimiento más sencillo. Estas características implican la mejora del EDX-LE tanto en sus aspectos técnicos como en lo que respecta a su facilidad de uso.

Entre sus características más destacables podemos mencionar el ahorro de mano de obra, la alta velocidad de detección, los menores costos operativos y un mantenimiento más fácil. Por otra parte, proporciona funciones específicas para la detección de los cinco elementos regulados por RoHS y funciones de fácil configuración que se puede personalizar de acuerdo con el método de gestión. Todo esto permite llevar a cabo tareas difíciles de manera simple gracias a su fácil operación desde la ventana y sus funciones automáticas: todos los pasos se ajustan automáticamente, a partir de la evaluación de los principales componentes de la selección de las condiciones. El EDX-LE de Shimadzu permite además mediciones de muestras grandes, gracias a su gran cámra de muestras y realizar análisis con tiempos de preparación de menos de un minuto para varias muestras.

El EDX-LE fue diseñado específicamente para los elementos de detección regulados por las normas RoHS / ELV y sus funciones de análisis automatizado mejoran la operatividad sin sacrificar su alto nivel de fiabilidad de inspección.

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