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Nuevo detector OneSight para difractómetros de rayos X

El detector incorporado en los nuevo instrumentos de Shimadzu ofrece un mayor número de canales de detección, con una intensidad de pico 100 veces mayor y una medición 25 veces más rápida

Nuevo detector OneSight para difractómetros de rayos X

Este año Shimadzu lanzó los difractómetros de rayos X OneSight XRD-6100 y XRD-7000, equipados con el nuevo detector de amplio rango y alta velocidad OneSight.

El OneSight ofrece un mayor número de canales de detección, con una intensidad de pico 100 veces mayor y una medición 25 veces más rápida que los detectores de centelleo convencionales.

Nuevo detector OneSight para difractómetros de rayos X

Mediante la irradiación de muestras con rayos X y la medición del patrón de difracción característico de rayos X difractados en la muestra, los difractómetros de rayos X obtienen una amplia gama de información relacionada con la estructura cristalina de sustancias, que permiten determinar el tipo de sistema de cristal y grado de cristalización.

También pueden ser utilizados para el análisis cualitativo y cuantitativo centrado en picos de difracción específicos. Los difractómetros de rayos X se utilizan para la investigación, el desarrollo y las aplicaciones de control de calidad en una amplia variedad de campos, tales como metales, cerámicas, medio ambiente y productos farmacéuticos.

Más información sobre Shimadzu XRD-6100 en la página del producto

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