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Microscopía electrónica de barrido (SEM) aplicada a la a caracterización de nanopartículas

A continuación, desarrollamos por qué es importante contar con la mayor exactitud en el monitoreo y caracterización de partículas, y cómo la microscopía electrónica de barrido (SEM) puede ser un valioso método para ello, especialmente por su versatilidad y resolución espacial superior.

El término “partícula” es un concepto general referido a cualquier porción discreta de una sustancia. Puede ir desde la escala subatómica (10-15 pm), al rango microscópico de átomos (0,3 Å) y moléculas (nm-μm), hasta el campo visible de polvo, tierra, piel (mm-cm), etc. La definición es poco precisa, por lo que las “partículas” pueden resultar muy diferentes en forma y tamaño.

Microscopía electrónica de barrido (SEM) aplicada a la a caracterización de nanopartículas

El crecimiento sostenido del uso de partículas microscópicas en un amplio espectro de aplicaciones ha creado la necesidad de controlar sus propiedades con la mayor exactitud posible. A continuación, desarrollamos por qué es importante contar con la mayor exactitud en el monitoreo y caracterización de partículas, y cómo la microscopía electrónica de barrido (SEM) puede ser un valioso método para ello, especialmente por su versatilidad y resolución espacial superior.

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