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Phenom XL: Sistema integral de toma de imágenes y análisis por rayos X

El nuevo microscopio electrónico de barrido Phenom XL corre los límites de desempeño de los instrumentos compactos de mesada y permite analizar muestras de hasta 100 mm x 100 mm...

Phenom XL: Sistema integral de toma de imágenes y análisis por rayos X

El microscopio electrónico de barrido Phenom XL ofrece la misma facilidad de uso y velocidad que cualquier otro sistema Phenom pero, a diferencia de los otros modelos, el Phenom XL está equipado con una recámara que permite analizar muestras grandes, de hasta 100 mm x 100 mm.

El desarrollo de un nuevo portamuestra motorizado permite barrer toda la superficie de la muestra (hasta 100 mm x 100 mm), y aun así el Phenom XL es un microscopio electrónico de mesada que requiere poco espacio y ninguna instalación especial.

Phenom XL: Sistema integral de toma de imágenes y análisis por rayos X

Su novedoso mecanismo de carga y venteo asegura el ciclo de carga de muestra más rápido del mundo, y por lo tanto el mayor rendimiento. La cámara de navegación óptica del Phenom XL facilita todavía más el uso del instrumento, gracias a que permite desplazarse hacia cualquier punto de la muestra con un solo clic.

Principales ventajas

  • Máxima capacidad de muestras
  • EDS totalmente integrada
  • Gran desempeño y velocidad
  • Detección de electrones secundarios
  • Navegación óptica continua

Más información sobre PhenomWorld Phenom XL en la página del producto

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